아드반테스트는 차세대 인공지능(AI)과 고성능컴퓨팅(HPC) 반도체 테스트 플랫폼 'V93000 엑사(EXA) 스케일'용 신규 카드 '핀 스케일 5000B'를 출시한다고 20일 밝혔다.
아드반테스트에 따르면 첨단 공정 노드 적용 확대와 칩렛 기반 이기종 집적 기술이 확산돼 테스트 커버리지 확대와 대규모 테스트 데이터 처리 수요가 커지고 있다.
핀 스케일 5000B는 이같은 시장 요구에 대응하기 위해 개발된 제품으로, 기존 대비 확장된 벡터 메모리 용량을 지원하는 것이 특징이라고 설명했다.
특히 칩렛 아키텍처 환경에서 메모리 사용을 효율화해 고객 전체 메모리 소비와 비용을 절감할 수 있다고 덧붙였다.
기존 테스트 프로그램과 하드웨어 구성을 유지한 상태에서 점진적 확장이 가능해 투자 효율성을 높일 수 있다는 설명이다.
아울러 핀 스케일 5000B는 최신 스캔 패브릭(scan fabric) 구조를 지원하며, 스트리밍 방식의 데이터 공급을 통해 다수의 IP 코어를 병렬로 테스트할 수 있는 점도 차별화했다고 아드반테스트는 강조했다.
아드반테스트 관계자는 “AI와 HPC가 스케일과 집적도 한계를 빠르게 확장하고 있는 만큼, 반도체 테스트 솔루션 역시 진화가 필요하다”며 “성능이 향상된 핀 스케일 5000B를 통해 V93000 엑사 스케일 플랫폼의 테스트 역량을 크게 확장할 수 있을 것”이라고 말했다.
윤건일 기자 benyun@etnews.com
