사단법인 한국반도체테스트학회가 주관하는 한국 테스트 학술대회가 오는 21일 양재동 더케이서울호텔에서 개최된다.
한국 테스트 학술대회는 올해로 17회차를 맞이한다. 업계와 학계의 최신 반도체 테스트 연구기술 성과가 발표되고 미래 기술에 맞춰진 논문이 공개될 예정이다.
올해는 김진국 SK하이닉스 D램기술본부장(전무)이 `메모리 반도체 기술혁신과 새로운 도전` 주제로 초청 강연을 한다. 또 반도체 소자, 테스트 장비 등 관련 산학계의 전문가들이 모여 `칩, 장비, 소켓(인터페이스) 업체의 고민 공유`라는 주제로 패널 토의를 진행한다.
한국반도체테스트학회는 올해 학회가 국내 테스트 기술을 한층 발전시킬 수 있는 기회의 장이 될 것으로 기대했다.
강성호 한국반도체테스트학회장은 “차세대 정보통신기술(ICT) 환경이 요구하는 고속, 대용량, 저전력 사양을 만족시키기 위해 테스트 장치나 디자인 분야의 전문화와 고도화 등 역할이 더욱 중요해지고 있다”며 “올해 학회는 산학연 인재들이 모여 서로의 경험과 생각을 공유하고 토론하는 장이 될 것”이라고 말했다.
한주엽 반도체 전문기자 powerusr@etnews.com
