KAIST, 그래핀 결정면 관찰 새기술 개발

Photo Image
왼쪽부터 정현수 박사과정, 김윤호 박사, 김대우 박사과정.

 꿈의 신소재 ‘그래핀’의 결정면을 기존보다 100만배나 더 넓게, 간단히 관찰할 수 있는 신기술이 개발됐다.

 KAIST 정희태 석좌교수(교신저자) 연구팀은 교육과학기술부와 한국연구재단의 WCU(세계수준의 연구중심대학)육성사업과 중견연구자지원사업으로부터 예산을 지원받아 이 같은 연구결과를 냈다고 28일 밝혔다. 연구결과는 나노과학 분야 국제 학술지인 ‘네이처 나노테크놀로지’ 11월 20일자 온라인 속보판에 게재됐다.

 연구에는 김윤호, 김대우 연구원(이상 공동1저자), 정현수 연구원(제3저자)이 참여했다.

 연구진은 LCD에 사용되는 액정의 광학적 특성을 이용했다. LCD 액정분자와 그래핀 분자 모양을 지그재그로 일치시켜 액정분사체의 복굴절 색상을 관찰하는 새로운 관찰 기술을 개발했다.

 기존에는 그래핀 결정면 관찰에 5억~10억원에 달하는 고가 장비가 필요했다. 하지만 이 방식은 일반 편광현미경만 있으면 대면적인 센티미터 단위까지 관찰할 수 있다.

 김대우 연구원(박사과정)은 “기존에는 수백나노~마이크로미터 수준의 결정면 관찰만 가능했지만, 이제는 이보다 100만배 이상 더 큰 면적을 관찰하게 됐다”고 말했다.

 정희태 교수는 “이상적인 전기적 특성을 가지는 고품질 그래핀 상용화에는 결정면 관찰이 필수”라며 “투명전극, 플렉시블 디스플레이, 태양전지와 같은 전자소자 응용연구에 한 걸음 더 다가설 수 있게 됐다”고 덧붙였다.


대전=박희범기자 hbpark@etnews.com


브랜드 뉴스룸