아드반테스트(대표 구로에 신이치로)는 D램, 낸드플래시, 멀티칩패키지(MCP)를 모두 테스트할 수 있는 메모리 테스트 시스템 장비 ‘T5833’을 내놨다.
보급이 확대되는 스마트폰과 태블릿 등 모바일 단말기, 인터넷과 클라우드 서비스를 지원하는 서버 등이 진화함에 따라 메모리 용량이 커지고 데이터 처리 속도가 빨라졌다. 이에 따라 메모리 칩 테스트 과정에서 테스트 비용을 절감하고 높은 성능을 유지하는 게 과제다.
T5833은 메모리 고속화와 대용량화 환경에서 웨이퍼 시험과 패키지 시험을 함께 할 수 있는 다기능형 테스트 시스템이다.
웨이퍼 테스트 시 기존 아드반테스트 제품 1.5배인 최대 2048개 장치를 동시에 측정할 수 있다. 패키지 테스트 시 최고 2.4Gbps 시험 속도로 최대 512개 디바이스를 동시에 테스트하므로 테스트 비용을 줄일 수 있다. KGD(Known Good Die) 시험도 최고 2.4Gbps까지 대응한다.
여러 개 CPU를 측정 대상 장치 시험 공정에 맞도록 조합해 제어하는 ‘플렉시블 사이트 CPU 아키텍처’를 채용해 테스트 시간을 단축하고 처리량을 크게 향상했다.
로엔드와 미드레인지급 스마트폰 등 주류 LPDDR3-D램뿐만 아니라 고속화가 진행되는 낸드플래시와 차세대 NVM(비휘발성 메모리) 시험에서도 낮은 테스트 비용을 제공한다.
웨이퍼 테스트에 필수적인 불량 분석 기능 분석 속도는 기존 아드반테스트 제품 대비 약 2배 빨라졌고 불량 위치 저장 기능도 한층 빠르게 처리한다. 테스트 시간을 단축함과 동시에 구제 가능한 집적회로(IC)를 늘려 수율 개선에 기여한다.
미래 지향적 확장 구조를 채용해 연산용 CPU를 추가할 수 있는 등 고기능화, 고속화, 대용량화가 가능하다.
T5833은 메모리 테스트 시스템용 공통 AS 플랫폼을 채용했다. AS플랫폼은 소형으로 평가·분석용 ES(Engineering Station)나 대규모 양산에 적합한 대형 QS(Quad Satellite), TH(Test Head) 등 여러 모델이 있다. 현장 요구에 가장 적합한 시스템 구성을 선택해 제공할 수 있어 기업 고객 초기 투자를 줄이고 효율성을 높이는데 기여한다.
AS플랫폼의 디지털 모듈로 업그레이드 가능하며 확장 요구에 대해 솔루션을 지속적으로 제공한다.
아드반테스트 메모리 테스트 시스템은 세계적으로 8000대 이상 설치돼 메모리 장치 테스트 시장을 선도한다. T5833 시리즈와 고속장치 T5503HS 제품군이 테스트 시장에서 아드반테스트 입지를 더 높일 것으로 회사 측은 기대했다.
아드반테스트는 반도체 테스트, 핸들러 등을 공급하는 세계 반도체 테스트 장비 시장 점유율 1위 기업이다. 반도체 양산 시험에 필수적인 시스템, 테스트 핸들러, 디바이스 인터페이스, 소프트웨어 등 전 장비를 공급하며 이를 통합한 ‘테스트 셀 솔루션’을 갖췄다.
올해 초 반도체 시장조사 업체 VLSI 리서치 조사에서 반도체 장비 부문 세계 최고 10개 업체에 27년 연속 선정됐다.
배옥진기자 withok@etnews.com
