민테크, EIS 기반 이차전지 불량 검출 美 특허 취득

민테크는 전기화학 임피던스 분광법(EIS) 기반 이차전지 불량 검출 기술에 대한 미국 특허를 취득했다고 20일 밝혔다.

회사는 미국 특허가 교류 전류나 전압을 가할 때 나타나는 성분 총합인 임피던스 변화를 토대로 불량 배터리 셀을 검출하고, 이를 구현한 장치와 관련한 내용이라고 설명했다.

현재 배터리 불량을 검출하려면 일정 온도에 셀을 보관하면서 개방회로전압(OCV)를 수차례 확인하는 방법을 사용한다. 다만 이 기술은 물리적 결함이 미세한 경우 OCV 값에 미치는 영향이 크지 않아 불량 검출이 어렵다는 한계가 있다.

민테크는 진폭이 작은 교류를 인가해 임피던스 크기 차이를 분석하는 기술을 활용하면 배터리 셀 생산 단계에서 미세 불량까지 선별할 수 있다고 전했다. 해당 특허를 미국에서 취득, 현지 시장 진출이 가능해졌다고 부연했다.

홍영진 민테크 대표는 “EIS 기술로 이차전지 불량을 검출하는 배타적 기술 권리 획득을 바탕으로 미국 시장 진출을 본격화할 것”이라며 “미국에 진출한 복수 배터리 제조사 및 전기차 업체와 EIS 일체형 화성공정 시스템 적용을 협의하고 있어 성과를 기대하고 있다”고 말했다.

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이호길 기자 eagles@etnews.com


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