“반도체의 대용량·고속화·복합화에 따른 테스트 기술의 어려움을 산·학이 함께 해결해야한다.”
강성호 한국반도체테스트학회장(연대 교수)은 “반도체 산업계는 현재 소자 기술 발전에 따른 테스트 기술의 어려움과 테스트 비용 상승 문제를 동시 해결해야 할 숙제를 안고 있다”고 24일 열린 ‘제 10차 테스트 학술대회’에서 지적했다.
이날 총 47편의 논문이 발표되고 약 400여 명의 학계 및 업계의 테스트 관련 종사자들이 참가한 이번 학술대회는 특히 메모리와 시스템반도체를 포함한 반도체 전반의 테스트 기술과 그 응용에 대해 설계·장비 등 여러 분야 전문가들이 그간의 연구 성과를 발표, 테스트 기술의 중요성을 전파했다.
이경진 학술대회장(삼성전자 상무)은 “테스트 적용 능력을 확대, 반도체 불량률을 줄이고 테스트 비용을 줄이는 건 반도체 산·학의 거듭된 도전”이라며 “이번 학술대회가 테스트의 어려움과 비용 상승 문제에 대한 다양한 연구 성과를 발표, 충실한 토론 장이 될 것”이라고 말했다.
올해 학술대회에선 국내·외의 테스트 관련 저명 인사가 초청 강연했다. 테라다인의 팀 모리알티(Tim Moriarty)매니저는 ‘한국반도체 현재와 미래’, 최명배 엑시콘 대표가 ‘국내 테스트 산업의 향후 방향’이란 주제로 각각 발표했다. 또, 하이닉스 반도체의 변광유 상무, 연세대학교의 김홍식 박사 등이 업계와 학계의 최신 테스트 이슈에 대한 튜토리얼을 발표, 기술적용의 문제점과 기술 동향이 소개됐다.
안수민기자 smahn@etnews.co.kr
