`테스트해법` 학술대회

한국반도체테스트학회(회장 강성호 연세대 교수 www.koreatest.or.kr)가 주관하는 한국테스트학술대회가 ‘고성능, 고용량 추세 속에서의 테스트 해법’을 주제로 25일 서울 양재동 교육문화회관에서 개최된다. 올해로 아홉 번째를 맞이하는 한국테스트학술대회는 기존 테스트협회가 사단법인으로 확대 개편돼 시행하는 첫 학술대회로 메모리와 비메모리를 포함하는 반도체 테스트와 상호 연계를 통한 연구, 발전을 위해 마련됐다.

이번 학술대회에서는 국내외 테스트 관련 저명인사들의 초청 강연과 업계와 학계의 최신 테스트 이슈들에 대한 튜토리얼 발표를 통해 각 분야에서 접하고 있는 테스트 기술적용의 문제점과 관련 기술 동향들이 발표될 예정이다. 특히, ‘패키지 단계에서의 고속테스팅’이라는 주제로 진행될 패널토의에서는 테스트장비 업체와 테스트 관련 CAD업체, 디자인하우스, 시스템업체, 대학 등 관련 전문가들이 참석해 열띤 토의를 할 예정이다. 문의 (02)313-3705

주문정기자 mjjoo@