<임베디드 시스템>측정솔루션 업체-테라다인코리아

사진: 1.5GPS 이상의 시스템온칩을 위한 테스트 시스템「Catalyst Tiger」

미국계 세계적인 반도체 칩 테스트시스템 업체인 테라다인코리아(대표 장홍조 http://www.teradyne.com)는 임베디드 칩의 로직 및 메모리를 테스트하기 위해 「Catalyst Tiger」 「Flash750」 「Aries」 등의 다양한 제품군을 공급하고 있다.

최근 새로 선보인 「Catalyst Tiger」는 1.5GPS 이상의 시스템온칩(SOC)을 위한 테스트 시스템으로 높은 생산성, 빠른 디지털신호처리 구조, 1024개 디지털 핀을 가진 아날로그 장비다.

「Flash750」의 경우 NOR형태의 플래시 메모리 소자를 32개까지 동시에 테스트하는 장비로 소자(DUT)별 마이크로프로세서와 알고리듬패턴제너레이터(APG)로 구성한 분산처리방식으로 디바이스별로 검사하는 것이 특징이다.

특히 이 시스템은 다른 디바이스의 테스트가 끝날 때까지 기다려야 하는 기존 테스트 장치와 달리 각각의 디바이스를 별도로 후속 검사할 수 있어 검사시간을 40% 이상 줄일 수 있다. 아울러 하나의 프로버(prober)를 사용해 핀 수가 적은 디바이스를 128개까지 테스트할 수 있다.

메모리 테스트 시스템인 「Aries」는 D램의 고속 웨이퍼 레벨 테스트가 가능하며 저가로 고성능의 소자를 테스트할 수 있는 테스트 솔루션이다.

Aries 고속 램 테스트시스템은 1.0 Gbit/sec의 데이터 레이트로 16개의 소자를 동시 테스트할 수 있으며 고주파 램, 다이렉트 램버스, D램, SL램, SS램 등에 대한 테스트가 가능하다.

또한 「Integra J750」은 1024개의 디지털 채널을 테스트 헤드속에 배치한 게 특징으로 32개 칩을 동시에 테스트할 수 있으며 콘택트(contact) 없이도 스마트 카드나 ID태그용 칩을 테스트하는 RFID 기능을 추가했다.

이외에 「J973EP」는 VLSI 테스트를 위한 고성능 테스트 시스템으로 디버그를 위한 분석용과 양산용에 다른 버스를 도입했다.