삼성전자, LDI용 테스트장비 개발

　삼성전자(대표 윤종용)가 최근 급성장하고 있는 LCD 구동 IC(LDI)용 테스트 장비를 개발했다.

　이 장비는 박막트랜지스터 액정표시장치(TFT LCD)용 구동칩의 전체적인 기능을 웨이퍼에서 검사하는 제품으로 반도체 회로의 로직 영역까지 검사할 수 있다.

　그래픽 처리용 비메모리 반도체 검사에 적합하도록 설계된 이 장비는 전체 제품 크기가 기존의 절반수준에 불과한 데 반해 검사속도는 10% 이상 향상된 고성능 제품이다.

　이에 따라 삼성전자는 이 장비를 LCD 구동칩 양산라인에 확대 적용하는 한편 하반기까지 마이크로컨트롤러(MCU)용 테스트 장비도 추가로 개발, 내년부터 연간 300억원 이상의 수입대체 효과를 올릴 계획이다.

　이 회사 시스템LSI사업부 박형건 이사는 『이번에 LCD 구동 IC용 검사장비의 개발은 상대적으로 낙후된 비메모리 검사장비 분야의 국내 기술수준 향상과 함께 원가절감을 통한 전체 비메모리 반도체사업의 경쟁력 제고에도 많은 도움이 될 것』으로 강조했다.

<주상돈기자 sdjoo@etnews.co.kr>