아드반테스트(대표 구로에 신이치로)가 선보인 `T2000 IPS(Integrated Power device test Solution) 시스템`은 전력관리칩 전문 반도체 테스트 장비다. 2016년 상반기 인기상품 품질우수 제품에 선정됐다. 고객사로부터 호평을 받은 바로 그 장비다.
전력관리칩 업계 최근 트렌드는 `통합`이다. 스마트폰을 예로 들면 과거에는 배터리 충전, 카메라 플래시용 발광다이오드(LED) 등 여러 개의 전력관리칩이 중앙 인쇄회로기판(PCB)에 실장 됐었다. 그러나 최근에는 이들 기능을 하나로 합친 전력관리칩이 출시되고 있다. 개별 칩이 하나로 통합되면 최종 시스템 설계 유연성이 높아지고 원가도 낮추는 것이 가능하다.
자동차 분야도 마찬가지다. 전자식 기능 제어 장치가 늘어나면서 ABS, 파워스티어링, 각종 센서 등 관련된 전력관리칩 출하 성장세가 가파르다. 최근 화두가 되고 있는 사물인터넷(IoT) 영역에서도 무선 데이터 송수신, 데이터 저장 등 전력관리 소자를 하나의 칩에 집적하는 기술이 속속 등장하고 있다.
문제는 테스트다. 이처럼 칩 복잡성이 증가하면 테스트 난이도는 높아지고 시간 역시 길어진다.
아드반테스트는 통합화가 이뤄지고 있는 반도체 소자의 기술적 진보에 발맞춰 연구개발(R&D)을 지속해왔다. 그 결과 여러 기능의 반도체 소자를 유연하게 시험, 측정할 수 있는 T2000 시리즈 테스터를 출시했다. 특히 전력관리 소자를 전문적으로 시험, 측정할 수 있는 T2000 IPS를 출시함으로써 관련 시장에서 점유율을 높여가고 있다.
아드반테스트 T2000 IPS는 통합화된 전력관리칩을 정확하고 빠르게 테스트할 수 있다. T2000 IPS 시스템의 강점은 테스트 시간을 줄여 개발부터 양산까지 소요 시간을 최소화한다는 것이다. 또 양산 진행 시 최대 양산 효율성 확보, 간단한 모듈 추가만으로 다양한 테스트 기능을 구현할 수 있는 것도 장점이다.
T2000 IPS의 특징적인 기능은 병렬 테스트 기능이다. 통상적으로 반도체 테스트 과정은 `순차` 방식이다. T2000 IPS의 커런트 테스트 펑션 기술은 각기 다른 칩의 기능을 블록화해 동시 테스트가 가능한 구조다. 이를 통해 테스트 속도를 비약적으로 높였다. 시스템 구성에 따라 16개, 32개, 32개 이상의 병렬 테스트가 가능하다. 중앙처리장치(CPU)를 추가해 데이터 처리, 연산 시간을 최소화했다.
연구 개발 설비와 양산용 설비의 연계성을 극대화해 연구소에서 개발한 제품을 그대로 양산 라인에 적용할 수 있다. 이는 양산을 위한 모듈 리소스 확대가 용이한 덕이다. 한 번에 여러 개 디바이스를 측정하는 것도 가능하다.
아드반테스트 관계자는 “T2000 플랫폼은 유연한 방식으로 확장할 수 있는 것이 큰 특징”이라며 “고객이 필요로 하는 기능이 있다면 관련 모듈만 추가하면 된다”고 설명했다.
T2000 시리즈의 기본 운영체계는 마이크로소프트 윈도XP 혹은 윈도7으로 사용하기 쉬운 환경을 제공한다. 프로그래밍 언어는 C++이다. 인터페이스 언어는 오픈아키텍처테스트시스템테스트프로그래밍언어(OPTL)다. 통합 환경을 지원하므로 엔지니어링 비용을 최소화한다. 로직 분석기와 오실로스코프 등 풍부한 테스터 도구가 제공된다.
한주엽 반도체 전문기자 powerusr@etnews.com
