아드반테스트코리아(대표 구로에 신이치로)는 최근 일본 본사에서 차세대 디스플레이 드라이버 IC(DDI) 테스트 시스템 ‘T6391`을 발표했다고 5일 밝혔다.
DDI는 스마트폰과 TV 등의 디스플레이 동작을 제어하는 IC로 터치센서와 대용량 로직·아날로그 회로를 탑재해 테스트가 어렵다. 이번에 선보인 ‘T6391`은 다핀화 및 고속인터페이스화, 다기능화 등 차세대 DDI 기술 트렌드에 부합한 최신 테스트 플랫폼이다.
고속 전송로와 여러 칩을 동시에 검사할 수 있는 512의 I/O 채널을 제공한다. 이로써 최대 3584핀 LCD 채널은 풀HD, WXGA, 스마트폰용 HD 720 등 고화질 영상표준용 DDI 테스트가 가능하다. 모바일기기 표준 인터페이스 규격인 MIPI용 DDI도 테스트할 수 있다.
모듈을 추가해 4K를 비롯한 차세대 TV용 DDI 테스트에 필요한 최대 6.5Gbps 속도를 제공한다. 아날로그 기능 테스트를 지원하는 16채널 아날로그 테스트 임의파형 발생기(AWG) 및 디지털 캡처 기능도 갖추고 있다.
로직 회로 테스트 효율을 높이기 위한 SCPG, 메모리 테스트 패턴을 발생하는 ALPG, 메모리 셀 고장분석에 사용하는 AFM 등 다양한 기능을 제공한다. 12월말에 출시할 예정이다.
김순기기자 soonkkim@etnews.com
