감사원 “전품연 나노이미지센서 기술 검증 부적정”

　전자부품연구원의 ‘나노기술을 이용한 초고감도 이미지센서 기술개발(나노 이미지센서)’ 과제 연구 부정 의혹과 관련, 개발 성과 발표와 연구 진실성 검증도 부적정했던 것으로 감사원 감사 결과 나타났다.

　감사원은 국회 감사청구에 따라 ‘전자부품연구원 연구개발 사업 추진 및 관리실태’에 대해 감사한 결과, 이같이 나타났다고 29일 밝혔다.

　감사원에 따르면 당시 소관 부처인 산업자원부는 전자부품연구원이 연구과제의 관리기관인 당시 정보통신연구진흥원과 홍보 시기와 내용 등을 협의했는지 확인하지도 않고 연구원이 주장하는대로 연구개발 성과를 수용, 보도자료를 배포했다.

　그 결과 해당 기술을 이전받은 모 업체의 주가가 2005년 11월 주당 4300원에서 그해 12월 주당 4만6950원으로 10배 이상 급등했으나 연구부정 의혹이 제기되면서 상용화에 실패, 2008년 4월 해당 업체 주식은 코스닥에서 상장폐지됐다.

　감사원은 연구성과를 대외에 홍보하면서 관리기관과 협의하지 않는 등 업무를 소홀히 한 담당자와 홍보내용이 적정한지 제대로 확인하지 않은 채 보도자료를 배포한 관련자에게는 주의를 촉구하도록 요구했다.

　감사원은 또 나노이미지센서 기술개발 업무를 총괄한 A씨가 민간 업체와 임의로 유급 기술고문계약 등을 체결, 기술이전 지원 대가 등으로 모두 7억9000여만원을 개인적으로 받은 사실을 적발, 전자부품연구원장에게 A씨의 파면을 요구했다. 이경민기자 kmlee@etnews.co.kr