어드반테스트 "메모리 테스터"
세계 최대 테스터 생산 업체인 일본 어드반테스트는 메모리 및 시스템LSI용 각종 테스트 장비들을 이번 전시회에 출품했다.
이중 「T6682」 제품은 최대 1천24개의 핀을 보유한 비메모리 반도체 검사에 사용할 수 있는 차세대 장비로 D램과 로직 소자가 혼합된 복합칩 검사에까지 적용 가능하다.
이와 함께 「T6671E」는 명령어축약형(RISC) 마이크로 컨트롤러와 각종 멀티미디어용 칩 등 최근 출시되기 시작한 고집적, 복합반도체의 최종 검사에 적용 가능한 보급형 제품이다.
특히 메모리 테스터 분야에서 어드반테스트는 램버스 또는 싱크로너스 D램 등과 같은 각종 고속 메모리 검사에 사용할 수 있는 「T5591」 장비를 이번 전시회에 출품해 관계자들의 눈길을 끌었다.
1㎓의 측정 속도를 자랑하는 이 시스템은 고속 메모리 테스트가 가능하도록 정확한 프로토콜 제어 및 빠른 로직 패턴 형성을 구현한 제품으로 실제 디바이스 작동 속도로 에러 부분을 검출해 내는 세계 최고속 메모리 테스터이다.
또한 이 장비는 16개의 소자를 동시에 검사할 수 있으며 새로운 테스트 헤드 냉각 시스템을 채택, 디바이스 인터페이스 부분의 열 발생 및 팬 떨림 현상을 사전에 방지한 것이 특징이다.
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