LTX코리아, 비메모리 반도체 테스터 공급

LTX코리아(대표 유영주)는 로직 및 아날로그 신호가 혼합된 각종 멀티미디어 칩의 최종 검사에 사용되는 비메모리 반도체 테스터 「DELTA/STE」를 국내에 공급한다.

1백25MHz속도의 반도체까지 검사 가능한 이 제품은 2개의 검사 헤드를 통해 1백 핀 IC를 기준으로 최대 4개를 동시에 검사할 수 있으며 단일 칩은 5백12핀 제품까지 테스트할 수 있다.

또한 이 장비는 오디오, ATM, MPEG, DVD 등과 같은 각종 멀티미디어용 칩은 물론 현재 개발 추진중인 임베디드 메모리의 성능 검사도 수행 가능한 것이 특징이다.

<주상돈 기자>