X레이 검사장비 전문업체인 자비스(대표 김형철)는 시료를 자르지 않고 단층촬영(CT)을 해 내부 입체 영상을 볼 수 있도록 한 초정밀 X레이 검사장비인 ‘XSCAN-H160CT`를 개발, 국내외 시장에 출시했다고 15일 밝혔다.
이 회사가 새로 개발한 ‘XSCAN-H160CT`는 지난해 초 세계 최초로 개발해 선보인 ‘XSCAN-N160DCT`의 후속작으로 일반 단층촬영(CT)은 물론 전자부품 내부 결함 및 제품결함 평가에 사용되는 어블리크CT(OCT) 두가지 타입의 CT촬영이 가능한 것이 특징이다. OCT 촬영은 최대 200x200㎜, 250x250㎜의 PCB까지 촬영가능하고, 500나노의 정밀도를 구현했다.
OCT의 합성속도는 1024×1024 해상도의 360장 영상을 기준으로 기존 5분에서 3초로 단축해 속도와 사용편의성을 크게 개선했다. 자비스는 이를 세계 최고의 수준으로 추정, 세계 특허를 출원 했다.
이 제품은 PCB·LED·반도체 등 정밀 검사가 필요한 부품에서 골드와이어·BGA·CHIP 부분의 접합 상태, VOID 등의 3D 검사를 하는데 적합하다. 2D 검사와 3D 재생 기능도 함께 제공한다.
자비스는 이 제품을 삼성전자와 LG전자 등에 국내 대기업에 공급한 데 이어 국내외 LED 제조업체를 대상으로 공급처를 확대해 나갈 계획이다.
성남=김순기기자 soonkkim@etnews.co.kr
