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한국테스트학술대회

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　한국반도체테스트학회가 주관하는 ‘한국테스트 학술대회’가 관련 학계와 업계 종사자 500여 명이 참석한 가운데 ‘고성능·고용량 추세 속에서의 테스트 해법’을 주제로 25일 양재동 교육문화회관에서 열렸다. 강원준 하이닉스 수석연구원이 D램 테스트의 현재와 미래에 대해 발표하고 있다.

정동수기자@전자신문, dschung@

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