테스텍, 난드형 플래시메모리 검사기술 국내최초 특허취득

　반도체 검사장비업체인 테스텍(대표 정영재 http://www.testech.co.kr)은 국내에서 처음으로 낸드(NAND)형 플래시메모리를 검사할 수 있는 기술에 대해 특허를 취득했다.

　이 회사의 특허기술은 낸드형 플래시메모리의 양불량 검사장비에 적용할 수 있는 핵심 검사기술로 S램, 램버스 D램, 더블데이터레이트(DDR) SD램, 4Gb 플래시메모리 등 모든 메모리를 검사할 수 있는 것이 특징이다.

　회사측은 국내는 물론 세계에서도 일본의 JEC 외에는 경쟁상대가 없으며 일본 기술에 비해서도 메모리 검사시간을 40% 이상을 단축하는 등 세계적인 경쟁력을 갖추고 있다고 밝혔다.

　<최정훈기자 jhchoi@etnews.co.kr>