엠피스엑스선, 3차원 X선 검사장비 신제품 개발

　엑스선 검사장비 전문업체인 엠피스엑스선(대표 전영배 http://www.amfis.com)은 기능이 개선된 3차원 엑스선 검사장비 ‘SM3160’을 개발, 시판에 들어간다고 13일 밝혔다.

　‘SM3160’은 검사 부위를 엑스선으로 투영해 대상물의 불량 유무·형태·원인·위치를 입체적으로 측정할 수 있는 3차원 엑스선 검사장비다.

　특히 이 장비는 기존 엑스선 검사장비로 정밀측정이 어려웠던 다양한 종류의 반도체를 비롯해 BGA(Ball Grid Array)나 CSP(Chip Scale Package) 같은 패키지제품, 다층인쇄회로기판·표면실장부품·정밀주조품 등의 내부 접촉상태, 단자간 접합 여부, 단자와 부품간 이격 정도 등을 비파괴 방식으로 정밀측정할 수 있다.

　또 검사시료의 위치를 레이저 포인트로 지적할 수 있어 위치 표식이 정확하며 2400배의 고배율 확대 기능, 최대 초당 80㎜의 수동 및 자동위치제어 기능, 마우스 컨트롤 기능, 고선명 엑스선 튜브, 박막트랜지스터 액정표시장치(TFT LCD) 모니터 등을 기본으로 내장했다.

　<최정훈기자 jhchoi@etnews.co.kr>