반도체 제조 후공정용 테스트시스템 공급업체인 테러다인코리아(대표 장홍조 http://www.teradyne.com)는 27일 플래시메모리 전용 테스트 시스템(모델명 FLASH 750)을 출시한다고 발표했다.
「FLASH 750」은 휴대형 전자기기 저장매체인 플래시메모리의 성능과 불량여부를 검사하는 장비로 소자(DUT)별 마이크로프로세서와 알고리듬패턴제너레이터(APG)로 구성한 분산처리방식으로 디바이스별로 검사하는 것이 특징이다.
특히 이 시스템은 다른 디바이스의 테스트가 끝날 때까지 기다려야 하는 기존 시스템과 달리 각각의 디바이스를 별도로 후속 검사할 수 있어 검사시간을 40% 이상 줄일 수 있다.
이 시스템은 또 NOR형 플래시메모리의 경우 기존 시스템에 비해 2∼4배 많은 32개까지 동시에 테스트하며 하나의 프로버(Prober)를 사용해 핀 수가 적은 디바이스를 128개까지 테스트할 수 있다.
테러다인코리아측은 『이번 FLASH 750은 대용량에 복잡해질 플래시메모리까지 검사할 수 있으며 기존 장비보다 가격도 싸 메모리 생산업체들의 가격경쟁력을 높일 수 있을 것』이라고 밝혔다.
<온기홍기자 khohn@etnews.co.kr>
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