아이캔, 28일 테스트장비 활용 `백 투 베이직스` 세미나

아이캔이 주최하고 미국 텍트로닉스가 주관하는 `백 투 베이직스 세미나`가 28일 대전컨벤션센터에서 열린다.

이번 세미나는 디지털 환경에서 정확하고 빠른 분석과 테스트하기 위한 측정 장비 기초 이론과 데모할 수 있는 자리로 마련된다.

이기웅 텍트로닉스 이사의 `AWG(Arbitrary Waveform Generator) 기본 이론 및 작동 원리`, 박완수 아이캔 부장의 `오실로스코프·프로브 기본 이론 및 선택 방법`, 김상훈 와이드스팬 사장의 `스펙트럼 분석기 기본 이론 및 텍트로닉스 RTSA(Real time Spectrum Analyzers) 활용법` 등이 발표된다.

29일에는 대구 엑스코에서 같은 주제로 세미나를 개최한다.

세미나 참석자 중 추첨을 통해 블랙박스, 휴대형 배터리팩 등 선물을 증정한다.


대전=신선미기자 smshin@etnews.com


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