KEIT, 특허지표 통한 기술수준 평가시스템 개발

국내 · 외 특허정보를 활용해 국가 기술경쟁력을 객관적으로 측정할 수 있는 시스템이 개발됐다.

한국산업기술평가관리원(KEIT 원장 서영주)은 `특허지표를 활용한 기술수준 도출 방법 및 이를 위한 시스템`을 특허정보서비스 전문업체인 윕스(WIPS)와 공동 개발, 특허를 출원했다고 6일 밝혔다.

이번에 KEIT가 특허 출원한 시스템은 우리나라와 미국, 일본, 유럽, 중국 등 세계 주요국의 특허정보를 `AIMS+`란 평가 틀로 분석해 그 결과에 근거해 세부 기술별 국가 경쟁력을 산출할 수 있도록 했다.

`AIMS+`는 특허경쟁력 평가를 위해 KEIT가 자체 개발한 모델이다. △특허활동지수 △특허집중지수 △특허시장력지수 △특허경쟁력지수 △특허영향력지수 등 5개 특허지표를 기술수준 측정에 활용한다.

KEIT 조일구 정보통신기획팀장은 “과거 정성적 평가나 설문조사 방식 진행된 기술수준 조사와 달리, 특허정보를 기반으로 과학적이고 체계적인 기술경쟁력 분석이 가능해졌다”고 강조했다.

KEIT는 10월 말까지 이 시스템으로 반도체와 모바일, IT융합 등 `14대 기술 분야`의 각국 경쟁력을 분석해 결과를 발표할 계획이다.

김승규기자 seung@etnews.co.kr