원광대 X선 형광분석기 개발

　적은 양의 유해 중금속 유무를 제품을 파괴하지 않고 쉽게 분석할 수 있는 첨단 ‘X선 형광분석기’가 국내 기술진에 의해 개발됐다.

　과학기술부는 원광대 익산방사선영상과학연구소 윤권하 교수팀이 국제 환경협약과 규제 기준에 맞춰 납 등 6가지 중금속 함유량을 분석할 수 있는 X선 형광분석기 개발에 성공했다고 밝혔다.

　이번에 개발한 분석기는 나노 수준의 박막을 수십층으로 쌓아 X선을 반사시키는 거울을 만들어 단색광 X선을 생성한 뒤, 측정대상 물질의 반응에서 나오는 원소 정보를 0.1ppm 이하의 초고감도로 분석하는 다층박막거울(Multi-Layer Mirror)에 기반을 두고 있다. 국내외에서 특허출원된 이 기술은 최근 미국에서 열린 ‘덴버 X선 콘퍼런스’에서도 소개됐다.

　과기부는 또 전량 수입에 의존하는 관련기기의 수요(연간 200억원 수준)를 충족하는 한편 연 1조원 이상 규모의 세계 X선 분석기기 시장에 진입할 수 있는 발판을 마련했다고 평가했다.

김승규기자@전자신문, seung@