아드반테스트코리아, 초고속 테스터 출시

　반도체 장비 공급업체인 아드반테스트코리아(대표 이종길)가 차세대 메모리와 플래시 소자의 전·후공정 검사에 사용 가능한 초고속 테스트 장비 「T5371」을 출시했다.

　이번에 선보인 제품은 64개 디바이스를 동시에 검사할 수 있는 대용량 테스터로 70㎒급의 빠른 측정속도를 구현한다.

　특히 초고속 메모리 제품의 전공정 테스트에 필수적인 에러 검출(Repair) 분석시간을 크게 줄일 수 있는 새로운 MRA4(Memory Repair Analyzer 4) 시스템을 탑재, 전체 반도체 검사시간의 단축이 가능하다.

　또한 이 장비는 기존보다 1.4배 가량 향상된 디바이스 검증(Match) 기능과 함께 소자내 불량영역을 블록(Block) 단위로 처리할 수 있는 블록 마스크 기능도 제공한다.

<주상돈기자 sdjoo@etnews.co.kr>