전자부품硏, "X선 단층검사시스템" 기술 태크밸리에 이전

전자부품종합기술연구소(소장 김춘호)는 최근 공업기반 기술개발과제로 개발에 성공한 「X선 단층검사시스템」 기술을 벤처기업인 태크밸리(대표 김성헌)에 이전했다고 25일 밝혔다.

태크밸리에 기술이전한 「X선 단층검사시스템」은 X선을 이용해 3차원 입체방식으로 부품의 단층을 검사할 수 있는 시스템으로 대상물-검출기 동기회전방식과 한번의 검사로 대상물의 모든 단층을 검퓨터에 의해 재구성할 수 있다.

특히 이 시스템은 영상왜곡 및 선명도를 개선했을 뿐만 아니라 단층정밀도의 검사능력을 기존 제품보다 2.6배나 향상시켰고 신경망이론을 채용해 자가진단 기능까지 구현할 수 있다.

벤처기업인 태크밸리는 전자부품종합기술연구소로부터 이전받은 검사시스템 기술에 자사에서 보유하고 있는 저에너지 발생형 X선장치 개발기술을 접목, 내년중으로 사용하기가 쉬우면서도 낮은 가격의 X선 단층검사시스템을 상품화해 국내외에 공급할 계획이다.

전자부품종합기술연구소의 한 관계자는 『휴대형 X선장치를 개발한 태크밸리에 기술을 이전함으로써 상품화가 빨리 이루어질 수 있게 됐다』면서 『이번 기술이전으로 산업용, 의료용, 군사용 등 다양한 분야에까지 기술파급효과를 기대할 수 있게 됐다』고 밝혔다.

전자부품종합기술연구소는 「X선 단층검사시스템」의 기술이전을 계기로 중소기업이 원하는 각종 핵심부품 및 관련기기의 기술이전에 적극 나설 방침이다.

<원철린기자>