SERI, IC리드프레임 자동검사기술 실용화 성공

집적회로 기판(IC리드프레임)을 생산하는 공장에서 제품의 불량을 자동으로 색출하는 IC리드프레임 자동검사 기술이 개발됐다.

24일 시스템공학연구소(SERI, 소장 오길록)는 비전시스템을 이용, 반도체 공정에서 고속으로 생산되는 IC리드프레임의 리드간격, 패드위치, 테이프위치, 미스펀치 등의 오차를 판단해 불량품을 가려내는 IC리드프레임 자동검사 소프트웨어를 개발했다고 밝혔다.

영상처리연구부 오원근 박사팀이 풍산정밀과 18억원의 연구비를 투입해 개발한 이 기술은 반도체 생산공정에서 고속의 컨베이어 벨트를 지나가는 IC리드프레임의 모양, 구멍위치 등 4가지 요인을 카메라로 확인, 오차를 판단하는 프로그램으로 1초에 8개 유닛을 0.01㎜ 오차로 구분할 수 있다.

관련업계에서는 이러한 수준은 기존 외국제품이 1초에 5개의 유닛에서 1가지 검사요인만을 0.03㎜ 오차로 분석하던 것에 비해 상당한 수준의 기술적 성과를 거둔 것으로 평가하고 있다.

이 프로그램은 사용자가 몇 가지 제품설계 데이터를 입력하면 검사에 필요한 나머지 데이터가 자동으로 생성되기 때문에 검사환경 설정에 따른 시간도 기존 3시간에서 1시간 내외로 크게 단축시킨 것이 큰 특징이다.

특히 개발기술을 응용할 경우 반도체 제조, 조립 전공정 검사기술로도 확대가 가능해 제조공정의 시간단축 및 제품품질, 생산성을 크게 향상시킬 것으로 기대를 모으고 있다. SERI는 이번에 개발한 기술을 현장에 적용할 경우 인건비 절감, 제품품질 향상 등으로 10%의 생산성 증대효과가 기대되며 연간 1백억원에 이르는 수입대체효과를 거둘 수 있다고 밝혔다.

<대전=김상룡 기자>