테라다인, 카탈리스트 AVLSI 테스터 공급

테라다인(대표 장홍조)이 아날로그 및 디지털 테스트를 동시 수행하는 복합칩용 테스트 장비 「카탈리스트 아날로그-VLSI」시스템을 국내에 공급한다.

최대 4백㎒ 클록속도까지 검사가능한 이 장비는 초고속 메모리와 아날로그 영역을 함께 갖춘 임베디드 메모리의 개발 및 양산에 대응하는 차세대 장비로 실질적인 혼합신호(Mixed Signal) 테스트기능을 제공한다. 또한 대폭 강화된 아날로그 테스트기능과 자체 특허의 운영소프트웨어를 채택, 검사속도가 빠르고 복합칩 검사시 자체 오류분석을 통해 에러영역을 자동으로 수정하는 최첨단 리던던시기능도 갖추고 있다.

장홍조 사장은 『복합칩 검사에서 아날로그 부분이 차지하는 영역은 작지만 실제 테스트 소요시간의 80% 이상을 차지하고 있다』고 설명하고 『이번에 출시된 카탈리스트 시스템은 이같은 점에 착안, 아날로그 검사기능을 대폭 강화함으로써 전체 테스트작업의 효율성을 극대화했다』고 밝혔다.

<주상돈기자>