일본의 반도체장비업체인 아드반테스트社가 메모리생산 前공정에서 메모리성능을 평가하는 고속실험장비 2개 기종을 시판했다.
최근 「日經産業新聞」 보도에 따르면 아드반테스트는 웨이퍼상에서 고속, 多비트 메모리를 검사할 수 있는 고속실험장비 「T5581P」와 「T5571P」를 시판, 수요가 증가하고 있는 고속, 多비트메모리용 검사장비를 前공정용으로 확대한다.
「T5581P」는 실험속도가 2백50MHz로, 메모리의 개발 평가용으로 개발됐다. 또 「T5571P」는 실험속도 1백25MHz로 양산라인용 제품이다. 아드반테스트는 2개기종을 합쳐 연간 2백대를 판매할 계획이다.
아드반테스트는 현재 팩키지까지 모두 마친 완성품 메모리용 고속실험장비를 시판하고 있는데, 고속메모리수요의 급증으로 판매가 호조를 보이고 있다.
<심규호 기자>
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