첨단 연구 및 검사장비 업체인 에프티랩(대표 고재준)이 터치스크린 패널의 형태와 무관하게 전용칩이 없이도 불량정도를 검사할 수 있는 범용 검사장비를 국내 처음으로 개발했다. 이 회사는 지난 5월에 LG이노텍 구미공장에 첫 공급을 마쳤고 그외 패널 제조업체와도 공급을 논의 중이라고 밝혔다.
기존 터치스크린 패널의 검사장비는 전용 직접회로(IC)칩을 사용한 위상차 측정방식으로 정전용량의 변화를 감지한 후 반응정도를 측정해야 했다. 즉 터치를 했을 때 반응하는 위상값이 해당 기준에 맞는지 여부에 따라 양품과 불량을 판별하는 것이 일반적이다.
하지만, 이 장비는 코일 콘덴서(LC) 공진 주파수의 변이차로 정전용량값을 정밀하게 검사하는 것이 핵심이다. 결국 이 회사의 장비가 패널의 전극면과 매칭해 주파수 값을 실시간으로 읽게 된다. 이 때문에 알고리듬을 해석하는 기존 검사장비와 달리 직접 해당값을 축출하기 때문에 패널 한 장당 2초 이내에 검사가 완료된다. 기존의 제품은 한 장당 검사 시간이 5∼6초 걸렸다.
고재준 사장은 “터치패널의 사이즈 따라 투명전극(ITO)이 다르기 때문에 전용 직접회로(IC)칩이 교체하거나 펌웨어를 바꿔야 하기 때문에 비용과 검사에 비효율적이었다”며 “한국산업단지공단으로부터 해외특허 지원을 받아 터치패널 생산 1위 국가인 대만에 특허 출원 중이며 하반기 대만을 주축으로 한 해외 시장을 공략할 것”이라고 밝혔다.
박태준기자 gaius@etnews.co.kr
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