반도체 테스트 전문가 한자리에 모인다

　반도체 테스트분야 전문가들이 한 자리에 모여, 한국 테스트산업의 방향을 제시한다.

테스트협회가 주관하는 제7회 한국 테스트학술대회가 ‘시스템온칩(SoC) 환경에서의 테스트’를 주제로 30일 양재동 교육문화회관에서 개최된다.

학술대회 회장인 삼성전자의 박헌덕 상무는 “테스트는 21세기 무한경쟁 시대에 한국경제를 이끌 시스템온칩(SoC)을 산업화하는데 필요한 핵심 요소기술”이라며 “국내 인프라를 한차원 높이기 위해서는 산·학·연·관의 협력과 노력이 절실하다”고 강조했다.

또 테스트협회장인 숭실대학교 장훈 교수는 “새로운 시스템온칩 테스트의 도전에는 기존의 기술을 바탕으로 새롭게 대두되는 문제점을 슬기롭게 해결할 수 있는 기술개발이 필요하다”며 “이번 학술대회는 그 기술개발의 방향을 설정할 수 있는 자리가 될 것”이라고 말했다.

이번 학술대회에는 테스트 장비업체·테스트 관련 CAD업체·반도체 디자인하우스·시스템업체·학계 등의 관련 전문가들이 대거 참여해 서로의 시각차이에서 발생하는 문제점과 이를 극복하기 위한 노력에 대한 열띤 토의를 벌일 예정이어서, 테스트 기술을 발전시킬 수 있는 기회의 장이 될 것으로 기대된다.

이날 학술대회장에서는 한양대 박성주교수의 ‘AMBA 기반 SoC 테스트를 위한 접근 메커니즘 설계’를 비롯한 30편의 엄선된 논문이 총 7개의 세션으로 나뉘어 발표된다.

초대 테스트 협회장인 연세대 강성호 교수는 “테스트 학술대회는 SoC 테스트 기술의 발전방향을 제시하면서 15개 국내 대학과 30개 이상의 국내외 기업들이 참여하는 장으로 발전했다”며 “이 행사를 통해 관련업계 및 학계는 새로운 학문 동향 및 연구결과를 접할 수 있을 것”이라고 말했다.

심규호기자@전자신문, khsim@