한국 테스트학술대회, 성황리 개최

　테스트협회가 주관하는 제6회 한국 테스트학술대회가 1일 양재동 교육문화회관에서 200여명이 참석한 가운데 성황리에 개최됐다.

　‘나노시대 시스템 온 칩(SoC)을 위한 테스트와 이를 고려한 설계 기법’이란 주제로 진행된 학술대회에서 학술대회장인 LG전자 백우현 상무는 “21세 무한경쟁시대에서 우리나라의 경제를 이끌어 나갈 성장 동력산업인 SoC의 핵심 기반 기술인 테스트 기술의 중요성이 커지고 있다”며 테스트 기술의 질적, 양적 성장의 중요성을 역설했다.

　삼성전자 박헌덕 상무는 “나노시대를 맞이하면서 이전의 테스트 방법으로 해결되지 않는 새로운 문제점에 대한 답을 찾기 위한 연구와 노력이 필요하다”고 강조했다.

　초청강연에서 테라다인의 손창한 지사장은 새로운 테스트의 도전과제에 대해 설명했고, 차세대반도체사업단장 조중휘 교수는 정부에서 바라보는 SoC산업과 발전방향을 제시했다.

　이날 학술대회에서는 ‘첨단 디바이스에서의 테스트 방법’이란 주제로 열띤 토의가 이뤄졌다. 이 자리에서는 테스트장비업체·테스트관련 CAD업체·시스템업체·대학 및 연구소에서 바라보는 시각에 따른 문제점과 이를 극복하기 위한 노력이 논의됐다.

　SoC산업을 통해 세계시장을 석권하기 위해서는 SoC산업의 특성상 시장진입 기간을 줄이는 것이 필요하고 이에 따른 SoC의 질을 결정하고 전체 비용을 결정하는 테스트 기술이 매우 중요하다는 것에 모든 참석자가 공감했다.

　또 SoC의 발전을 위한 테스트기술의 패러다임은 설계, 제조, 테스트의 기술이 하나로 융합되어야 한다는 데 의견을 모았다.

　테스트협회장인 연세대학교 강성호 교수는 “새로운 SoC 테스트의 도전은 기존의 기술을 바탕으로 새롭게 대두되는 문제점을 슬기롭게 해결하기 위한 기술개발이 필요하다”고 밝혔다. 또 프로그램위원장인 한양대학교 박성주 교수는 “테스트기술이 SoC의 산업화에 중요한 요소기술이며 이에 대한 산·학·연·관의 협력과 노력이 필요하다”고 언급했다.

　올해로 6회째를 맞는 테스트학술대회가 국내 유일의 테스트관련 학회로서 테스트장비업체, 테스트관련 CAD업체, 디자인하우스, 시스템업체, 대학교 등의 기술교류의 장으로 자리 잡아 가고 있다.

　 심규호기자@전자신문, khsim@