파인 세라믹, 고분자 재료, 나노소재 등 각종 재료 특성을 짧은 시간에 분석하거나 광학부품 표준을 효율적으로 측정할 수 있는 ‘연 X선 흡수 분광 빔라인’이 국내 최초로 구축됐다
한국과학기술연구원(KIST·원장 김유승)은 과기부로부터 약 30억원을 지원받아 포항가속기연구소(소장 백성기)와 4년여간의 공동 연구 끝에 ‘연 X선 흡수 분광 빔라인’ 건설을 완료, 시험가동기간을 거쳐 내년 6월부터 일반 사용자에게 문호를 개방할 것이라고 23일 밝혔다.
이번에 완공된 빔라인은 에너지 영역이 50∼2400 전자볼트(eV)로 실리콘 소재 분석이 가능해 국내외적으로 매우 유용하게 쓰일 것으로 보인다.
KIST측은 “기존에는 흡수, 반사, 방출이라는 3가지 측정방법이 각각 분리 사용돼 왔으나 이번 빔라인은 하나의 실험장치 내에서 동시 처리가 가능, 상호 보완적인 실험을 통해 신뢰성과 정확성을 높일 수 있다”고 설명했다.
<이중배기자 jblee@etnews.co.kr>
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