<임베디드 시스템>측정솔루션 업체-아드반테스트코리아

사진: 아드반테스트코리아가 로직테스트 시스템분야에서 새로 출시한 SoC 테스트 시스템 「T6672」

일본계 세계적인 반도체 테스트 시스템(ATE)업체인 어드반테스트코리아(대표 이종길 http://www.advantest.co.jp)는 임베디드 칩 테스트를 위해 로직과 메모리 부문을 각각 테스트할 수 있는 시스템을 내놓았다.

임베디드 칩(embeded chip)에는 로직(logic)과 메모리가 공존하기 때문에 이 회사는 로직과 메모리 기능을 각각 분리해서 테스트할 수 있는 장치들을 선보이고 있다.

특히 메모리 소자 테스트 시스템 시장의 선두업체인 이 회사는 메모리 분야에서는 다양한 제품군을 갖추고 있다.

이 회사의 임베디드 메모리 소자 테스트 시스템으로는 저속 메모리 소자를 테스트하는 「T5365/T5361/T5381/T5371」 등의 제품군과 중간 속도의 칩 측정용 「T5581/T5585」, 고속 메모리 칩을 테스트할 수 있는 「T5591/T5592」 등이 있다.

이 가운데 신제품인 「T5371」은 테스트 레이트 70㎒로 64개 칩을 동시 측정할 수 있으며, 「T5585」는 테스트 레이트 250㎒에 128개 칩의 동시 테스트가 가능하다.

「T5592」의 경우 1.066㎓의 테스트 속도를 제공하며 64개 디바이스를 동시 측정할 수 있게 설계됐다. 아울러 기존 고객들의 비용부담을 최소화하기 위해 메모리 테스트 시스템인 「T55xx 시리즈」 장비와 호환성을 높여 신규 프로그램 개발을 위한 비용 및 시간이 줄어 생산성 향상을 높일 수 있도록 했다.

임베디드 칩의 로직 테스트 시스템 분야에서는 「T3347」과 최근 새로 출시한 「T6672」 등이 있다.

내년에 출시될 신제품 「HL1」과 「T6672」를 병행해 사용하면 임베디드 칩을 효율적으로 테스트할 수 있다.

「T6672」는 테스트 레이트가 125/250/500㎒급이며, 「HL1」은 125/250㎒의 측정 성능을 제공한다.