반도체 검사장비 업체인 티에스이(대표 권상준)가 미국 웨이브크레스트의 지터(jitter) 측정장비를 국내에 공급한다고 21일 밝혔다.
이 제품(모델명 DTS-2077/2079)은 3㎓의 주파수 대역폭과 초당 3.2Gb의 듀얼데이터레이트(DDR) 및 680펜토초(fs, 1fs는 10●¹●)의 고해상도를 갖고 있다.
또 2피코초(ps)의 정밀도 및 1.63㎓까지 주파수 측정이 가능하며 특히 별도의 VISI 알고리듬을 기반으로 하고 있어 짧은 시간에 지터를 분석하고 테스트할 수 있다.
이 가운데 「DTS-2079」는 지터 측정 및 분석, 히스토그램, 오실로스코프, 스펙트럼, 펑션애널라이저, 타임시리즈, 타임디지타이저 등의 기능을 갖추고 있어 반도체·LCD·통신 업체를 비롯해 각 연구소와 검사라인에서 활용할 수 있다.
지터는 반도체·컴퓨터·통신 장비 제조공정에서 발생하는 일종의 노이즈로 데이터의 손실이나 오동작의 원인이 된다.
문의 (0417)581-9955
<허의원기자 ewheo@etnews.co.kr>
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