반도체 테스터 공급 업체인 테라다인코리아(대표 장홍조)는 이번 전시회에 초당 1기가바이트의 속도로 작동하는 초고속 반도체 테스터 「ARIES」 제품을 출품한다.
다이렉트 램버스 D램, 싱크링크 D램 등의 초고속 메모리 시장을 겨냥한 이 장비는 최대 16개 디바이스를 병렬로 검사할 수 있는 동시에 빠른 검사 속도를 보장함으로써 생산성 향상을 통한 테스트 비용의 절감을 실현했다.
또한 이 장비는 그동안 고속 메모리 검사시 가장 큰 장애 요인으로 지적돼온 고주파 대역 인터페이스 문제를 완벽히 해결함으로써 이 기술을 응용한 각종 초고속 디바이스의 양산과 종합적인 테스트가 가능하다.
이와 함께 테라다인은 아날로그 및 디지털 테스트를 동시 수행하는 복합칩용 테스트 장비와 플레쉬 메모리 테스트 장비 등 각종 출시 제품들도 전시할 예정이다.
이 가운데 복합칩 테스터인 「카탈리스트 아날로그-VLSI」시스템은 초고속 메모리와 아날로그 영역을 함께 갖춘 임베디드 메모리의 개발 및 양산에 대응하는 차세대 장비로 실질적인 혼합신호(Mixed Signal) 테스트 기능을 제공한다.
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