반도체 테스터 업체인 테라다인은 초당 1기가바이트의 속도로 작동하는 초고속 반도체 테스터 「ARIES」 제품을 본격 출시한다.
다이렉트 램버스 D램, 싱크링크D램 등의 초고속 메모리 시장을 겨냥한 이 장비는 최대 16개 디바이스를 병렬로 검사할 수 있는 동시에 빠른 검사 속도를 보장함으로써 생산성 향상을 통한 테스트 비용의 절감을 실현했다.
또한 이 장비는 그동안 고속 메모리 검사시 가장 큰 장애 요인으로 지적돼온 고주파 대역 인터페이스 문제를 완벽히 해결함으로써 이 기술을 응용한 각종 초고속 디바이스의 양산과 종합적인 테스트가 가능하게 됐다고 회사측은 설명했다.
테라다인은 내년 1월 개최 예정인 「세미콘코리아」에 이번 개발된 「ARIES」 제품을 선보이고 이를 통해 본격적인 국내 공급에 나설 방침이다.
<주상돈 기자>
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