미국 센서업체인 클래스트론社가 반도체제조공정에서 실리콘웨이퍼 표면의 평탄화 작업을 대폭 효율화하는 검출장치를 개발했다.
일본 「日經産業新聞」에 따르면 클래스트론사는 실리콘웨이퍼의 표면을 평탄화하는 화학적기계연마(CMP)장치에 부착해 사용하는 최종검출장치 「OPTIMA9300」를 개발, 최근 출하를 시작했다.
이 장치는 구동 모터의 전류를 검출해 연마된 웨이퍼 표면의 변화를 모니터 화면에 표시할 뿐 아니라 작업시작 전에 원하는 산화막 두께를 설정해 놓으면 설정된대로 연마작업을 자동 완료하기 때문에 산화막을 최적의 두께로 형성할 수 있다.
지금까지 CMP작업은 연마 시간을 설정하거나 더미(DUMMY)웨이퍼를 사용해 몇번이고 검사를 반복함으로써 최적의 막두께를 검증해 왔다. 새 시스템은 자동적으로 산화막의 두께를 제어하기 때문에 CMP공정의 시간단축은 물론 더미웨이퍼도 불필요해져 반도체제조가격을 크게 절감할 수 있을 것으로 기대된다.
<심규호 기자>
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