LG전자부품, 반도체 검사용 번인 소킷 첫 개발

LG전자부품(대표 조희재)은 16MD램과 64MD램에 동시에 적용할 수 있는 반도체 검사용 번인소킷을 국내 처음으로 개발,본격 생산에 나섰다고 2일 밝혔다.

IC소켓은 1백20의 고온에서 반도체의 전기적 성능을 검사하기 위해 사용하는 측정용 소킷을 말하는 것으로 정밀측정을 위해서는 소킷의 정밀도가 중요해 보통 2∼3개월마다 교체하는 소모성 지그이다.

이번에 개발한 제품은 16MD램용 44핀과 64MD램용 50핀을 동시에 사용할 수 있게 설계된 것이 특징으로 최근 LG반도체의 승인을 받아 납품을 시작했다고 회사측은 밝혔다. 이 번인소킷은 초정밀 금형 및 가공술,조립기술이 요구돼 그동안 일본의 야마이찌,미국 TI 등에서 전량 수입사용돼 왔는데 이번 국산화로 연간 2백억원 정도의 수입대체 효과가 기대된다고 LG측은 밝혔다.

LG전자부품은 최근 2개의 후속모델 개발에 착수하는 등 기종을 다양화하고 각종 고성능 IC소킷류를 추가 개발해 나가기로 했다.

<이창호 기자>