IC외관 자동검사장치 개발

반도체검사에 필요한 첨단핵심기기인 IC(Integrated Circuit)외관 자동검 사 장치가 국내 처음으로 개발됐다.

26일상공자원부 발표에 따르면 이 장비는 한국반도체연구조합 주관으로 (주 )유진로보틱스 (주)아이멕스 및 삼성항공연구소 등 중소 기업과 대기업이 공동으로 참여, 정부의 공업기반기술개발자금 등 총 개발비 7억3천만원으로 3년 6개월의 연구끝에 개발됐다.

이장비는 반도체 패키지를 시간당 1천4백개씩 자동으로 검사하고 있으며 불량률도 크게 낮출 수 있어 국내 업계가 선진국과 대등한 검사기술을 갖출 수있을 것으로 기대된다.

이장비의 개발로 오는 98년까지는 3천만달러 상당의 수입대체 효과와 함께7백만달러 규모의 수출효과가 예상된다고 상공부는 밝혔다.