최근 반도체 업계에서는 낮은 테스트 비용을 유지하면서 더 큰 기능을 제공하기를 요구하고 있다. 아드반테스트코리아의 시스템온칩(SoC) 테스트 시스템인 'V93000'은 확장 가능한 플랫폼 아키텍처를 통해 저가의 사물인터넷(IoT)부터 고급 자동차 장치 또는 고도로 통합된 멀티코어 프로세서와 같은 하이엔드 제품에 이르는 광범위한 장치를 테스트한다.
IoT 확산과 4G에서 5G로 이동은 반도체 테스트 문제점을 가중시키고 있다. 수십억개 IoT 기기가 GPS, 블루투스, WLAN, NB-IoT, LTE-A, LTE-M 등 연결 기술을 통합하고, 스마트폰이 5G 통신망으로 연결되기 시작하면서 문제가 더욱 가중될 것으로 보인다. 각종 모바일 기기는 M2M 통신에서 스마트도시 유·무선 액세스까지 확장된다. 기기 설치 장소는 스마트 공장이나 차량에서 운동 경기장과 공항으로 확장된다. 이를 위한 트랜시버 칩에는 고품질 신호를 전달하는 RF 포트와 밴드 수가 증가하고 있다. 이 때문에 테스트 시간이 길어지고 테스트 비용 또한 증가하고 있다.
이 때문에 차세대 5G 무선 통신으로 나아가는 반도체 기술의 발전에 맞춰 RF와 혼합신호 IC 테스트 기능은 병렬 처리와 처리용량 면에서 새로운 수준에 도달해야 한다.
아드반테스트 V93000 웨이브 스케일 RF 모듈은 고도의 병렬 멀티 사이트와 사이트 테스트를 가능하게 해 테스트 비용을 획기적으로 절감하고 궁극적으로 기기 출시 시간을 단축시킨다.
대부분 트랜시버는 테스트 경로와 대역을 병렬로 지원하는 아키텍처를 사용해 실제 동작을 모방한 특별한 모드테스트를 구현할 수 있는 기술을 개발해 테스트 비용을 줄인다. 예를 들어 자동차에서 전화를 걸 때 스마트폰은 셀 타워에 연결되어 있지만 핸즈프리 블루투스에도 연결돼 있다. GPS로 이동할 가능성이 높으며 아이들이 볼 동영상을 내려받기 위해 WLAN 연결을 사용할 수도 있다. 효율적인 생산 테스트를 위해서는 여러가지 기능 테스트를 한번에 하는 병렬 작업을 수행해야 한다.
기존 직렬테스트 기술은 복잡한 장치를 효율적인 비용으로 테스트할 수 없었다. 캐리어애그리게이션(CA)이 있는 LTE-A 트랜시버의 경우 직렬 테스트 방법은 일련의 RF 신호발생기와 기저 대역 측정 동작과 기저 대역 신호 발생기, RF 측정 작동에서 순차적으로 다양한 업링크와 다운링크 채널을 테스트해야하므로 긴 시간이 필요했다.
반면에 병렬 테스트 플로는 단일 장치에서 여러 포트의 테스트 속도를 높이고 다중 사이트 테스트를 지원할 수 있다. 병렬 테스트 기술은 테스트 프로세서 기반 동기화와 병렬 임무 모드 테스트 기능을 제공하는 V93000 WSRF 카드와 같은 계측기를 통해 구현된다. WSRF는 여러 트랜시버 채널을 동시에 병렬로 테스트할 수 있기 때문에 MSE(다중 테스트 효과)를 향상시키고 테스트 시간을 크게 단축시킨다.
아드반테스트코리아 관계자는 “V93000 솔루션 아키텍처가 향상된 카드는 높은 병렬 처리와 대규모 멀티 사이트 기능을 제공하기 때문에 고객이 현재와 차세대 통신 장치를 비용 효율적으로 테스트할 수 있다”고 설명했다.
정현정 배터리/부품 전문기자 iam@etnews.com
