안리쓰는 9월 24일, 다채널 광모듈*1에 대한 보다 효율적인 평가를 지원하기 위해, 널리 사용되는 자사 MP2100A의 후속 제품으로 새로운 BERTWave MP2100B를 출시한다고 발표했다. 이번에 새로 개발된 BERTWave MP2100B는 동시적 BER 계측*2 및 아이 패턴 분석*3을 지원하며 광 통신 시스템에서 사용되는 광모듈과 광학 장비*4를 평가하는 데 필요한 모든 항목을 단일 MP2100B 세트로 계측할 수 있다.
BER 계측 및 아이 패턴 분석에 두 가지 계측 장비가 필요한 기존 시스템과 달리, 한 대의 MP2100B 세트로 필요한 모든 평가 항목을 지원할 수 있으므로 최대 40%까지 장비 비용이 절감된다. 또한 이번의 새로운 릴리스에 광학 스위치와 광 감쇠기를 옵션 액세서리로 추가하면 다채널 광모듈 및 광학 장비를 평가하는 데 필요한 모든 기능을 갖춘 완전한 계측 솔루션이 된다.
광모듈 및 광학 장비 제조 시장에서 필요로 하는 더욱 빠른 계측 속도를 지원하기 위해 최대 150ksample/s의 속도를 제공하는 새로운 고속 샘플링 모드가 레거시 모델보다 최대 1.5배 빠르게 아이 마스크 테스트*5 등과 같은 아이 패턴 분석을 수행한다. 아울러 MP2100B 내장 BERT(비트 오류율 테스터)는 QSFP+ 등과 같은 다채널 광모듈의 동시적 BER 계측을 위해 4채널로 업그레이드하면 레거시 모델과 비교하여 계측 시간을 최대 80%까지 단축할 수 있다.
안리쓰는 제조업체에서 장비 비용을 절감하고 계측 시간을 단축하여 광모듈 및 광학 장비의 제조 비용을 대폭 절감하는 데 새롭게 출시된 MP2100B가 도움이 되기를 기대한다.
