『광섬유 전달속도를 측정하고 관련 표준을 정하는 것은 굉장히 중요한 문제입니다. 속도가 고속화될수록 더욱 그렇습니다. NIST는 국가 표준기술을 수립하는 국립 연구기관으로 광전자 소자의 핵심기술과 각종 표준을 수립하고 있습니다.』
미국 NIST(National Institute of Standards and Technology) 광전자연구소에서 계측학을 담당하는 폴 헤일 박사는 NIST를 이같이 설명하고 광통신 발전의 중추기관이자 선도기관이라는 점을 강조했다.
NIST는 측정기술이나 표준연구, 추적성 연구는 물론 광전자와 관련된 제조기술 방법 등 다양한 분야에 걸친 연구기관으로 상무부에 속해 있다. 특히 NIST는 표준을 연구하는 것뿐 아니라 산업체의 요구에 따른 교정업무도 담당하고 있다.
헤일 박사는 『영국과 독일, 일본, 멕시코 등의 연구소와도 협력체제를 구축하고 기술 및 측정기술 표준과 관련해 공동연구를 수행한다』고 덧붙였다.
헤일 박사는 NIST 내에서도 고속측정기술과 관련해 다양한 프로젝트를 수행한 실력가로 통한다. 광원과 광검출기를 측정하고 이를 토대로 표준과 방법론을 연구중인 헤일 박사는 『이미 2.5Gbps 및 10Gbps 측정기술은 이미 상용화됐으며 지금은 전세계적으로 40Gbps 측정기술이 논의되고 있다』고 전했다. 특히 헤일 박사는 조만간 80Gbps와 160Gbps 연구에도 착수할 예정이라며 강한 의욕을 내비쳤다.
『WDM과 같이 수많은 파장을 이용하거나 고속측정의 경우에는 광자의 주기가 부정확하기 때문에 헤테로다인 기법을 사용하게 된다』는 헤일 박사는 『이 때 중요한 변수는 광자와 마이크로웨이브 소자가 서로 일치하지 않는 경우에 생기는 반사작용』이라며 연구과정에서의 애로사항을 토로했다.
『향후 WDM 광전송기술은 파장간의 간격이 좁아지고 사용할 수 있는 대역도 훨씬 넓어질 것』이라는 헤일 박사는 『따라서 일반 시스템에서의 파장 및 편광의존형 WDM 광소자의 특성을 규명하고 제어할 수 있는 기법이 필요하다』고 강조했다. NIST가 WDM 기술개발을 촉진하기 위해 다양한 WDM 측정기법과 장비교정용 표준원기를 개발하고 있는 것도 이 때문. 여기에는 WDM용 파장표준, 광섬유의 감광성 연구와 편광의존 손실 및 파장 편이방식이 포함돼 있다는 것이 헤일 박사의 설명이다.
이밖에도 NIST는 측정 및 표준을 위해 광통신기술 연구개발에 필요한 광지연 표준원기, 광섬유 색분산 표준원기, 편광모드분산 표준원기 등을 제작해 원하는 기관에 실비로 제공하고 있다. 올해 말까지는 편광의존손실 표준원기와 결정편광모드분산 표준원기 등을 개발할 계획이다. 다만 이같은 정밀한 표준원기들의 경우 모두 수작업으로 제작되기 때문에 업무량이 많은 편이다.
<덴버(미국)=정은아기자 eajung@etnews.co.kr>
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