일본 어드밴테스트는 이번 전시회를 통해 초고속 메모리와 시스템LSI에 대응하는 각종 테스트 장비들을 대거 선보였다.
이 가운데 다이렉트 램버스 D램 등 초고속 메모리 테스트에 본격 대응하는 하이엔드 메모리 테스터 「T559」는 이번 전시회에서 최초로 공개된 제품으로 메모리 셀과 주변회로를 모두 검사할 수 있다.
또한 이 장비는 핀당 데이터 전송속도가 1Gb/sec고 5백㎒급의 클록 주파수를 지닌 초고속 메모리의 실제 속도 측정이 가능하며 최대 8개칩을 동시에 테스트할 수 있다.
어드밴테스트는 이와 함께 전공정용 장비로 플래시메모리 전용 테스터인 「T5721」를 출품했다.
이 장비는 디바이스별 테스트 기능과 컨트롤러 영역을 서로 독립시킴으로써 테스트 소요 시간 및 비용을 대폭 절감할 수 있도록 한 것이 가장 큰 특징이다.
많이 본 뉴스
-
1
단독500만원에 100명 '묻지마' 모집…'모두의 창업' 지원자 브로커 성행
-
2
BMW, 연내 세단 7시리즈·SUV X5 출격
-
3
단독건양대병원, 자체 AI 데이터센터 구축…최대 200억원 투입
-
4
韓 휴머노이드, 美 수출길 막혔다…“정부, 특단의 대책 서둘러야”
-
5
쿠팡 CLS, '배' 번호판 택배차량 불법 운송 잡는다
-
6
中 반도체 공장, 장비 3대 중 1대 '메이드 인 차이나'
-
7
빅테크 AI, 먹통 돼도 보상규정 없다
-
8
삼성디스플레이, 갤S27 프로·울트라에 최신 M16 OLED 공급
-
9
삼성전자 '스마트싱스', 최신 '매터 1.6' 첫 도입…“연결 생태계 확장”
-
10
누리호 5차 발사, 역대 최다 위성 15기 싣고 내달 7일 발사…초소형군집위성 첫선
브랜드 뉴스룸
×











