기술품질원, 低에너지 X선 비파괴 검사장치 개발

인체에 무해한 저에너지 X선 비파괴 검사장치가 국내 최초로 개발됐다.

국립기술품질원 김준형 박사팀은 최근 온수공급배관의 단열 시공상태 검사와 PCB기판의 내부구조 분석 등에 사용되는 휴대용 저에너지 X선 비파괴 검사장치을 국내 처음으로 개발했다고 8일 발표했다.

기술품질원이 한국지역난방공사로 부터 용역을 받아 개발한 이 제품은 인체에 해로운 고에너지(1백40kV∼1백60kV)를 사용하는 기존 제품과는 달리 인체에 무해한 저에너지(50kV미만) X선을 사용해 안전성이 크게 향상됐으며 가격도 1천만원 수준으로 기존 제품의 3분의 1에 불과해 제조업 분야와 건설업계 등에서 널리 사용될 것으로 전망된다.

<김성욱 기자>