KIST, 질량분석장비 국내 도입

반도체, 세라믹등 각종 재료의 미량분석및 분자구조분석은 물론 이온의 비행 도달시간 등을 측정할 수 있는 2차이온 질량분석장비(SIMS)가 아시아 지역에 서는 처음으로 국내에 도입된다.

한국과학기술연구원(KIST,원장 김은영)은 IBRD차관으로 1백만달러상당의 최첨단 표면분석장비인 2차 이온 질량분석장비를 도입, 오는 10일 가동식을 개최한다. 이번에 도입된 SIMS는 에너지분석장치 및 두종류의 이온빔과 두 종류의 레이저 등을 장착해 금속.반도체.고분자.세라믹 등 모든 재료의 미량분석, 분자 구조분석, 깊이방향 분포분석 등 첨단분석기능을 수행할 수 있어 국내 재료 분야의 연구를 크게 활성화할 수 있을 것으로 기대된다.

<양승욱기자>