반도체테스트학회 24일 학술대회 개최

　 한국반도체테스트학회(회장 강성호, 연대 교수)는 24일 수요일 양재동 교육문화회관에서 ‘제10회 한국 테스트학술대회’를 개최한다.

이번 학술대회에선 국내·외의 테스트 관련 저명인사들의 초청 강연과 업계와 학계의 최신 테스트 이슈에 대한 튜토리얼 발표를 통해 각 분야에서 접하고 있는 테스트 기술 적용의 문제점과 관련 기술 동향이 발표될 예정이다.

또, 패널토의에서는 ‘복합칩(SIP, MCP, TSV)에서의 테스트 도전’이란 주제로 장비업체, CAD업체, 디자인하우스, 시스템업체, 대학교 등 테스트 관련 전문가들이 참가. 열띤 토의를 벌일 예정이다.

반도체테스트학회 측은 “이번 대회가 새로운 학문 동향 및 연구결과를 접할 수 있는 테스트 관련 종사자들의 축제의 장이 될 것으로 기대한다”며 “이를 통해 우리나라 테스트 기술을 한층 발전시키고 국내 유일의 전문 학술대회로서 그 지위를 확고히 할 것”이라고 말했다.

안수민기자 smahn@etnews.co.kr