한국테스트학술대회 6월 30일 개최

　한국테스트협회와 시스템IC 테스팅연구회는 오는 6월 30일 서울 양재동 교육문화회관에서 한국테스트학술대회를 개최한다고 8일 밝혔다.

　학술대회 주최측은 이달 말까지 산학연 전문가들을 대상으로 시스템 온 칩(SoC) 및 임베디드 테스트 관련 전분야 논문을 접수해 다음달 14일 채택여부를 통보할 예정이다.

　올해로 7회째를 맞는 한국테스트학술대회는 테스트와 관련된 모든 분야에 걸친 연구 성과 발표를 통해 국내 테스트분야 원천 기술 발전을 견인한다는 취지에서 열리는 행사다.

　삼성전자·LG전자·동부일렉트로닉스·하이닉스·테러다인·어드밴테스트코리아·멘토·엠텍비젼·프롬써어티 등 국내외 반도체 관련업체들이 후원한다. 문의 (02) 822-3215

　 심규호기자@전자신문, khsim@