한국테스트학술대회, 7월 1일 개최

　한국테스트협회와 시스템IC 테스팅연구회는 오는 7월 1일 서울 양재동 교육문화회관에서 제6회 한국테스트학술대회를 개최한다고 30일 밝혔다.

테스트학술대회는 반도체산업 발전의 한 축을 담당하고 있는 테스트 기술의 발전과 육성을 목적으로 지난 2000년 부터 매년 개최되는 행사로, 원천 테스트기술 확보 및 인력양성에 기여하고 있다.

반도체의 급격한 시스템 온 칩(SoC화)로 반도체 원가 가운데 테스팅 비용이 차지하는 비중이 커지면서 최근 관련업계를 중심으로 테스트 기술에 대한 관심이 급속히 높아지고 있다.

학술대회 주최측은 오는 6월 1일까지 산학연 전문가들로부터 임베디드·시스템 온 칩(SoC)을 포함한 테스트 관련 전 분야논문을 접수해 15일까지 채택 여부를 통보할 예정이다. 문의 031-400-5199

심규호기자@전자신문, khsim@