日미쓰비시전기, 반도체 메모리 테스트 지원 시스템 개발

　일본 미쓰비시전기는 반도체 메모리를 테스트하는 과정에서 테스트 품질을 그대로 유지하면서 테스트 항목을 단시간에 최적화하는 「반도체 메모리 테스트 지원 시스템」을 개발했다고 일본 「반도체산업신문」이 보도했다.

　이에 따르면 미쓰비시가 이번에 개발한 시스템은 메모리칩의 기능이 복잡해지면서 발생하는 제품 개발 초기 테스트 항목의 증가와 제조원가에서 차지하는 테스트 비용 비율 상승 등의 문제점을 획기적으로 해결할 수 있는 것으로 테스트 항목을 최적화하는 데 많은 시간이 필요한 수작업을 자동화함으로써 작업시간을 약 100분의1로 단축한 것이 특징이다.

　미쓰비시는 이 시스템을 현재 적용중인 S램이나 D램 외에 플래시 메모리나 표시장치 등으로 테스트 대상 품목의 적용 범위를 넓힐 계획이다.

<주문정기자 mjjoo@etnews.co.kr>