극동뉴메릭, 번인 테스터 첫 국산화

반도체 제조공정중 고온 등의 악조건 속에서 칩의 불량유무를 검사하는 번인 테스터(Burn in Tester)가 처음으로 국산화됐다.

반도체 장비업체인 극동뉴메릭(대표 김한기)은 16M 및 64MD램에 대응하는 번인 테스터 「SMART365N」과 「SMART720N」 2개 모델을 개발, 최근 삼성전자의 품질승인을 받고 이달부터 본격적으로 생산한다고 12일 밝혔다.

이 회사가 지난 2년간 총 16억원을 투자해 개발한 이 장비는 완성된 칩의 불량유무를 가리기 위해 개별 디바이스의 출력을 모니터하는 MBT(Monitoring Burn in Test)기능과 함께 최대 96시간이 소요되는 번인 테스트 기간중 일반 로직 테스트의 일부 기능시험 항목들을 번인 테스트와 동시에 처리하는 TDBI(Test Dual Burn In) 시스템도 구현 가능한 최신 장비이다. 특히 이번에 개발한 장비는 기존 듀얼 방식이 아닌 랜덤 방식으로 신호처리, 검사 가능한 소자의 영역을 대폭 확대했으며 테스트 패턴 사이클을 1백 수준으로 단축해 기존 장비보다 20% 이상 빠른 검사속도를 구현한다고 회사측은 밝혔다.

이 장비는 또한 관련 소프트웨어의 국산화를 통해 기존 유닉스 체계가 아닌 윈도95 환경에서도 운영 가능하며 각종 검사관련 정보들을 일정 기간동안 수집, 분석할 수 있는 데이터베이스 기능도 보유하고 있다.

최근 양산제품에 대한 삼성전자의 품질승인을 획득한 극동은 지난달 완공한 안양시 호계동 소재 제2공장에 월 10대 이상을 생산할 수 있는 번인시스템 전용 생산라인을 구축하고 이달부터 본격적인 생산에 돌입할 방침이다.

김한기 사장은 『이 번인시스템은 하드웨어와 함께 각종 관련 소프트웨어도 자회사인 세라시스템을 통해 자체 개발한 1백% 국산장비』라고 밝히고 『이에 따라 향후 2백56MD램 시대는 물론 각종 복합칩 및 싱크로너스 D램의 양산에 대응한 새로운 번인 장비의 국산화 작업도 훨씬 수월하게 됐다』고 강조했다.

한편 약 5백억원 규모로 추산되는 국내 번인 테스터시장은 그동안 디아이가 일본 JEC와의 기술제휴를 통해 국내 생산, 삼성과 현대에 전량 공급해 왔으며 LG반도체는 일본 F社의 장비를 수입, 사용하고 있는 것으로 알려졌다.

지난 93년 트랜지스터 테스터용 OS를 개발하는 등 현재 국내 유일의 반도체용 테스터 국산화 업체로 인식되고 있는 극동은 지난해 1백억원의 매출을 올린 데 이어 올해는 번인 테스터의 본격적인 양산으로 2백50억원 이상의 매출을 기대하고 있다.

<주상돈 기자>