SERI, IC.리드프레임 검사시스템 개발

시스템공학연구소(SERI.소장 오길록)는 1억3천만원의 연구비를 들여 풍산정밀(주)과 공동으로 반도체칩을 고정시키며 칩의 기능을 외부로 전달하는구조재료인 IC(집적회로) 리드프레임(leadframe)의 불량을 자동으로 검사하는시스템을 개발했다.

이번에 개발된 IC자동검사 시스템은 그간 수작업에 의존하던 반도체 리드프레임 검사공정을 자동화시켜 고속으로 불량품을 골라내는 장치이다.

시스템공학연은 이번에 개발된 장치를 이용할 경우 리드프레임의 형태변화에제한받지 않고 1초에 2㎙단위의 5개 유닛을 고속으로 정밀하게 검사할 수있다고 밝혔다.

개발된 시스템은 CCD카메라를 이용해 리드프레임의 형체를 인식한 다음 이에대한 화상정보를 영상처리 및 패턴인식기법을 활용해 분석하는 방식이다.

시스템공학연은 특히 이 시스템을 이용할 경우 검사원의 수작업에 의존,확대경이나 현미경을 사용해 30초 동안 5개의 유닛을 검사하던 기존방식에비해 제품 불량률을 0%에 가깝게 줄일 수 있게 됐으며, 리드프레임의 크기가점차 작아지고 핀수가 증가하더라도 적용이 가능하다고 밝혔다.

<대전=김상룡기자>